Evidência direta para a difusão e eletromigração de Cu em CuInSe2

A difusão de Cu na calcopirita CuInSe2 foi estudada diretamente, usando 64Cu como um traçador radioativo. Para a difusão a partir de uma fina camada superficial, os coeficientes de difusão de Cu a 380 e 430 °C foram encontrados variando de 10−8 a 10−9 cm²/s. No caso de difusão a partir de uma fonte volumétrica a 400 °C, um valor de 10−10 cm²/s foi calculado a partir dos perfis de difusão. A eletromigração de Cu foi demonstrada, aplicando-se um forte campo elétrico a uma amostra e seguindo a redistribuição de 64Cu, que havia sido difuso termicamente na amostra, antes da aplicação do campo elétrico.