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좁은 선 능동 은하 및 H II 영역과 유사한 은하의 분류에 대한 수정된 방법이 제안된다. 이 방법은 두 유형의 물체 간의 물리적 구별을 최대한 활용하고, 적색 보정과 플럭스 보정의 오류 영향을 최소화하는 선 비율을 포함한다. 새로운 비공식 측정치를 포함한 내부 일관된 대규모 데이터 세트가 사용된다. 최근의 사진 이온화 모델에 대한 예측이 전력 법 스펙트럼과 뜨거운 별에 의해 관찰과 비교된다. 분류는 이러한 모델을 기반으로 해석된 관측 데이터를 기반으로 한다.
Veilleux 외 (Sun,)은 이 질문을 연구했다.