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본 논문은 경계가 불명확한 잡음 특성을 가지는 디스플레이 패널 모듈의 모서리 검출을 위한 측면 에지에 대한 선 검출 알고리즘을 제안한 것이다. 산업 현장에 사용되는 패널에 대해 일반적으로 백라이트를 쓰는 경우는 선명하게 모서리 영상을 얻을 수 있음으로 측면 에지 검출을 쉽게 수행할 수 있다. 하지만 카메라 쪽에 설치된 조명을 조사하여 패널 모듈의 영상을 촬영하는 경우, 패널 모듈의 에지 상태 및 이물에 의한 잡음이 많이 발생하여 선 검출이 비정상적으로 수행되는 경우가 많다. 이를 해결하기 위하여 아웃라이어를 고려한 선검출 알고리즘을 제안하였다. 제안된 알고리즘은 문턱치를 이용한 에지를 검출한 후, 라인피팅(Line-fitting)을 수행하고 표준편차 범위에 속한 인라이어 데이터의 개수를 평가하는 방식으로 RANSAC 방법을 적용하여 수행하였다. RANSAC 방법으로 구해진 결과에 대하여 아웃라이어를 배제하고 라인피팅을 통하여 최종적으로 선을 검출하였다. 실제 패널의 측면 영상을 사용하여 실험을 진행하였고 제안된 방법의 성능을 평가하였다.
Lee et al. (Thu,) studied this question.