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패치그래픽 X선 컴퓨터 단층촬영은 여러 동기 방사선 소스의 사용자에게 제공되는 정량적 3차원 이미징 기술입니다. 사용 가능한 X선 빔의 일관성 부분에 대한 의존성으로 인해 회절 한계 저장 링에 완벽하게 적합합니다. MAX IV는 첫 번째이자 현재까지 유일하게 운영 중인 4세대 동기광원으로, 현재 이 기술을 사용자에게 제공하기 위해 설정된 실험 스테이션이 없습니다. 따라서 첫 번째 패치그래픽 X선 컴퓨터 단층촬영 실험이 NanoMAX 빔라인에서 수행되었습니다. 결과로부터 현재 실험 설정의 한계와 개선을 위한 집중해야 할 사항에 대한 정보가 얻어졌습니다. 스캔 속도, 이미징된 부피의 크기 및 달성된 해상도 측면에서 추출된 매개변수는 NanoMAX 빔라인에서 나노 단층 촬영 실험을 설계하는 미래 사용자에 대한 기준선을 제공해야 합니다.
Kahnt et al. (Tue,)은 이 질문을 연구했습니다.