빔 위치 모니터 오프라인 캘리브레이션을 위한 세 가지 데이터 선택 접근법

초록 이 연구에서는 빔 진단 시스템을 위한 정전기 빔 위치 모니터(BPM)의 제작을 설명합니다. BPM 픽업의 캘리브레이션은 제작 후 제조 공차로 인해 민감도와 곡선 피팅이 모두 필요합니다. BPM을 캘리브레이팅하기 위해, 우리는 와이어 기반 테스트 벤치와 판독 전자 장치를 포함하는 BPM 캘리브레이션 시스템을 개발했습니다. 우리는 캘리브레이션 정확도에 미치는 영향을 이해하기 위해 세 가지 차이-합(DOS) 데이터 선택 방법: DOS diag, DOS axis 및 DOS all을 고려했습니다. 각 방법은 특정 DOS 데이터를 선택했으며, 우리는 이들의 특성 곡선을 비교했습니다. 결과적으로, 선형, 3차, 5차 및 2차원(2D) 3차 다항식 피팅을 수행하여 캘리브레이션 결과를 분석했습니다. 세 가지 DOS 데이터 선택 방법 각각을 조사하여 캘리브레이션 정확도와 필요한 데이터 양 측면에서 이점 및 한계를 설명했습니다. 얻어진 결과는 적절한 DOS 데이터 선택 접근 방식을 선택함으로써 BPM 오프라인 캘리브레이션에 사용될 수 있으며, 최소화된 캘리브레이션 오류와 다항식 곡선 피팅으로 최적화된 응답 특성을 달성할 수 있음을 보여주었습니다.