Durante a ressonância magnética (MRI) na presença de implantes ativos em forma de fio, como os eletrodos de estimulação cerebral profunda, há um risco de lesões térmicas nos tecidos adjacentes aos contatos do implante devido às correntes de radiofrequência induzidas no fio. Atualmente, não existe um método estabelecido para avaliar a segurança de radiofrequência (RF) de um implante in situ, devido a interações complexas entre o implante e o campo elétrico dentro do paciente durante a MRI. Este artigo apresenta um método para quantificar a corrente de RF em um implante usando aquisições de MRI com SAR muito baixo. Para medir a corrente de RF in situ, uma sequência de mapeamento B1 modificada é proposta para imagens da perturbação associada do campo B1+ B₁^+. Um modelo de sinal direto relaciona a intensidade da corrente de RF ao sinal de MRI e é utilizado para ajustar a corrente de RF a partir dos dados adquiridos. Simulações eletromagnéticas e experimentos em um fantoma homogêneo são apresentados para fios de implante simplificados e reais para validar o método. O modelo apresentado pode reconstruir corretamente as amplitudes da corrente de RF a partir de mapas de campo obtidos com simulações eletromagnéticas detalhadas, com um erro RMS normalizado de 4,7%. Experimentos com o fantoma mostram uma boa linearidade entre o quadrado da corrente medida pela MRI e o aumento da temperatura (R² > 0,91), demonstrando que as medições de corrente de RF representam quantitativamente o aquecimento efetivo. Um método foi desenvolvido para quantificar a corrente de RF in situ a partir de sinais de MRI. Este método permite prever o risco individual de aquecimento para outras sequências de MRI realizadas na mesma sessão de escaneamento.
Hartmann et al. (Sat,) estudaram esta questão.