RESUMO A instabilidade operacional de diodos emissores de luz de perovskita (PeLEDs), particularmente sob estresse térmico, continua a ser um grande obstáculo para a comercialização. Neste estudo, combinamos a caracterização de dispositivos com espectroscopia de fotoelétrons in situ (PES) para elucidar os mecanismos de degradação térmica em PeLEDs de haletos mistos azuis, revelando uma forte dependência das camadas de transporte de elétrons (ETLs). Dispositivos que utilizam 1,3,5-tris(N-fenilbenzimidazol-2-il) benzeno (TPBi) exibem falha rápida devido ao contato interfacial físico fraco, o que leva ao descolamento térmico e severas mudanças morfológicas. Em contraste, dispositivos baseados em 2,4,6-tris3-(difenosilfosfinila)fenil-1,3,5-triazina (POT2T) retêm 90% de sua eficiência inicial a 80°C, graças à forte ligação química na interface e alta estabilidade térmica. Importante, a PES revela a migração universal de íons Cl da perovskita para ambas as ETLs como a principal origem das mudanças espectrais de eletroluminescência. Essas descobertas oferecem novas perspectivas sobre o papel duplo da estabilidade interfacial e migração de íons, destacando a necessidade crítica de engenhar interfaces químicas robustas para suprimir caminhos de degradação e alcançar PeLEDs estáveis.
Li et al. (Sat,) estudaram essa questão.