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A ciência e a engenharia de materiais modernas dependem cada vez mais do conhecimento detalhado da estrutura e das interações em materiais "macios" e "duros", mas tem havido surpreendentemente poucas técnicas microscópicas para investigar as estruturas de amostras maciças dessas substâncias. A dispersão de nêutrons em pequeno ângulo (SANS) foi reconhecida pela primeira vez na Europa como uma técnica importante para esse propósito e, ao longo das últimas décadas, tem sido uma área em crescimento tanto na pesquisa acadêmica quanto industrial em materiais para fornecer informações estruturais em escalas de comprimento de ∼10–1000Å (ou 1–100nm). A técnica de dispersão de nêutrons em pequeno ângulo com ultra-alta resolução (USANS) eleva o limite superior de resolução para estudos estruturais em mais de duas ordens de grandeza e (até ∼30μm) e, assim, se sobrepõe à dispersão de luz e à microscopia. Esta revisão ilustra a vitalidade contínua do SANS e do USANS na pesquisa de materiais por meio de uma variedade de aplicações práticas atuais de sistemas nanostruturados de materia macia e dura.
Melnichenko et al. (Sun,) estudaram essa questão.
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