Utilizando a Variabilidade da Memória de Acesso Aleatório Resistiva para Implementar Funções Inclonáveis Físicas Reconfiguráveis

O mecanismo de comutação estocástica e a variabilidade intrínseca da memória de acesso aleatório resistiva (RRAM) apresentam desafios severos para aplicações de memória, que, no entanto, podem ser utilizadas para implementar a função inclonável física (PUF) para segurança de hardware. Uma PUF baseada na variabilidade da resistência da RRAM é proposta nesta carta. Diferente das PUFs baseadas em variação de fabricação, esta proposta explora uma variabilidade intrínseca em mecanismos físicos com reconfigurabilidade. Características chave do design da PUF são avaliadas por simulação utilizando propriedades medidas da RRAM e modelo do dispositivo. A variação verdadeiramente aleatória da resistência da RRAM é crítica para a unicidade (ou incapacidade de clonagem) da PUF. A confiabilidade (ou robustez) da PUF proposta é afetada pela dependência da resistência da RRAM em relação à temperatura e à voltagem, bem como pelas características de retenção. A grande separação entre a distância de Hamming inter-chip e intra-chip como medida de unicidade e confiabilidade confirma a viabilidade da proposta de PUF.