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Os catalisadores de átomos únicos (SACs) têm atraído recentemente muita atenção. Para identificar os materiais de átomos únicos, uma combinação de microscopia eletrônica de transmissão com campo escuro anular de alto ângulo (HAADF-STEM) e estrutura fina de absorção de raios X estendida (EXAFS) baseada em radiação síncrotron é tipicamente utilizada. No entanto, o trabalho presente revela que o EXAFS não é sensível o suficiente para identificar átomos únicos em muitos casos, o que pode facilmente confundir as contribuições de pequenos aglomerados ou nanopartículas devido à polidispersidade e efeitos de desordem. Além disso, o HAADF-STEM mede regiões muito limitadas, o que pode facilmente deixar de captar outras composições. Os sítios catalíticos reais em várias reações podem ser significativamente diferentes dos sítios de átomos únicos devido às composições complicadas nos chamados "SACs", o que também pode levar a um mal-entendido do mecanismo de ação.
Feng et al. (Mon,) estudaram essa questão.
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