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artigo Acesso LivreAncorando dimensões de qualidade de dados em fundamentos ontológicos Autores: Yair Wand Universidade da Colúmbia Britânica, Vancouver Universidade da Colúmbia Britânica, VancouverVer Perfil, Richard Y. Wang MIT Sloan School of Management MIT Sloan School of ManagementVer Perfil Informações e Reclamações dos Autores Comunicações da ACMVolume 39Edição 11Nov. 1996 pp 86–95https://doi.org/10.1145/240455.240479Publicado:01 de Novembro de 1996Histórico da Publicação 738citações9.629DownloadsMétricasTotal de Citações738Total de Downloads9.629Últimos 12 Meses1.300Últimas 6 semanas160 Receber Alertas de CitaçãoNovo Alerta de Citação adicionado!Este alerta foi adicionado com sucesso e será enviado para:Você será notificado sempre que um registro que você escolheu for citado.Para gerenciar suas preferências de alerta, clique no botão abaixo.Gerenciar meus AlertasNovo Alerta de Citação!Por favor, faça login na sua conta Salvar no BinderSalvar no BinderCriar um Novo BinderNomeCancelarCriarExportar CitaçãoSite do EditoreReaderPDF
Wand et al. (Sex,) estudaram essa questão.
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