Difração de Backscatter de Elétrons (EBSD) de alta resolução e baixa kV de Alumínio fortemente deformado e nanocristalino por meio de indexação baseada em dicionário

Demonstramos a capacidade de uma nova abordagem de indexação de dicionário (DI) para Difração de Backscatter de Elétrons (EBSD) por meio de mapeamento de orientação de uma microestrutura graduada altamente deformada em uma liga de Alumínio 7075-T651 tratada com bombardeio de esferas. Uma baixa tensão de aceleração do microscópio foi utilizada para extrair, pela primeira vez a partir de uma amostra em bloco, informações de orientação estatisticamente significativas de uma região próxima a uma cratera de impacto, mostrando tanto nano-grãos recristalizados quanto grãos fortemente deformados. Mostramos que a robustez do método DI permite uma aquisição mais rápida de padrões de menor qualidade, limitada apenas pelo hardware da câmera, em comparação com a velocidade de aquisição e qualidade de padrão exigidas pelo método convencional de indexação de Hough (HI). O método proposto abre caminho para a caracterização quantitativa e precisa de microestruturas fortemente deformadas em uma escala de comprimento submicrométrica em casos onde as técnicas de indexação atuais falham amplamente.