Sistema de medição 3D novel baseado na projeção de padrão de speckle e franjas

Um sistema eficiente de medição de forma tridimensional é proposto, que se baseia na combinação da projeção de um único padrão digital de speckle e padrões de franjas com deslocamento de fase. No início, o ponto correspondente inicial para cada pixel é obtido por um novo método de combinação de speckle-fase. As informações iniciais podem ser calculadas pelo padrão de speckle único em um curto espaço de tempo, enquanto as informações de fase são usadas para garantir os resultados. Ao contrário dos métodos convencionais, não é necessário obter a fase desdobrada, portanto, o número de padrões projetados é reduzido consideravelmente. Em seguida, coordenadas correspondentes precisas são obtidas de acordo com a fase embrulhada. Três casos são analisados ao ajustar as coordenadas correspondentes iniciais localmente. Assim, coordenadas precisas são obtidas sem pontos faltando ou incorretos. Experimentos demonstram que podemos alcançar resultados de reconstrução precisos com tempo de medição reduzido pelo método proposto.