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O principal objetivo do design de CI baseado em núcleos é a melhoria da eficiência do design e do tempo para o mercado. Para evitar que o desenvolvimento de testes se torne o gargalo em toda a trajetória de desenvolvimento, a reutilização de testes pré-computados para os núcleos pré-projetados reutilizáveis é obrigatória. O usuário do núcleo é responsável por traduzir o teste a nível de núcleo em um teste a nível de chip. Um mecanismo padronizado de acesso a testes facilita essa tarefa, contribuindo assim para o caráter plug-n-play do design baseado em núcleos. Este artigo apresenta o conceito de um mecanismo estruturado de acesso a testes para núcleos incorporados. Módulos de IP reutilizáveis são encapsulados em um TESTSHELL. O acesso a dados de teste dos pinos do chip ao TESTSHELL e vice-versa é fornecido pelo TESTRAIL, enquanto a operação do TESTSHELL é controlada por um mecanismo dedicado de controle de testes (TCM). Tanto o TESTRAIL quanto o TCM são padronizados, mas abertos a extensões.
Marinissen et al. (Qua,) estudaram essa questão.
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