使用力显微镜在绝缘体表面沉积和成像局部电荷

一种力显微镜已被应用于新的领域，用于在绝缘体上沉积和成像局部表面电荷。其成像的横向分辨率超过了当前可用技术的水平。通过向蚀刻的镍显微镜尖端施加电压脉冲，在聚甲基丙烯酸甲酯和单晶蓝宝石表面上创建了大约 2×10−16 C 的微米级区域。在沉积电荷后，所获得的带电区域的高对比度图像呈现为恒定力梯度的轮廓。观察到对比度在大约 1 小时内衰减，为表面电荷移动性提供了证据。可检测的最小表面电荷估计约为 100 个电子。