ZUSAMMENFASSUNG Die chemische Spezifität der Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS) zur Analyse von Oberflächen ist gut etabliert. Überlappende Peaks und komplexe Peakformen können jedoch die routinemäßige Analyse von Spektren behindern. Studien, die kontrollierte Änderungen an Proben betreffen, um systematisch die Photoelektronenspektren zu verändern, können wertvolle Informationen über Peakformen und versteckte spektrale Merkmale aufzeigen. Diese Einblicknotiz wird präsentiert, um Benutzer darin zu schulen, Änderungen in Spektren zu erfassen und zu nutzen, um die spektrale Analyse zu erleichtern.
Morgan et al. (Thu,) haben diese Frage untersucht.