Mikrowellenmessung der komplexen Leitfähigkeit von supraleitenden, sehr dünnen FeSe1−xTex-Filmen (x = 0 - 0.5)

Zusammenfassung Um die komplexe Leitfähigkeit von supraleitenden Filmen, die wesentlich dünner als die Eindringtiefe sind, über einen breiten Temperaturbereich einschließlich der Nähe von T c zu messen, entwickelten wir eine neuartige Technik zur Kavitätsperturbation unter Verwendung von Mikrowellen-Elektrofeldern parallel zur Filmoberfläche. Durch die Anwendung dieser neu entwickelten Technik auf FeSe 1− x Te x-Filme stellten wir Änderungen in der Temperaturabhängigkeit der superfluiden Dichte und der Quasiteilchenstreuwahrscheinlichkeit an der nematischen Grenze fest, was mit den bereits erzielten Ergebnissen bei Messungen im Mikrowellen-Magnetfeld bei niedrigeren Temperaturen übereinstimmt. Diese Änderungen an der nematischen Grenze deuten auf eine Variation in der Struktur der supraleitenden Bandlücke zwischen Proben in den nematischen und nicht-nematischen Phasen hin.