Elektronische Korrelationen in multiferroischen Van-der-Waals-CuCrP2S6: Einblicke aus der Röntgenspektroskopie und DFT

Die elektronische Struktur von hochwertigen Van-der-Waals-multiferroischen CuCrP2S6-Kristallen wurde durch die Anwendung von Photoelektronenspektroskopiemethoden in Kombination mit DFT-Analysen untersucht. Mithilfe der Röntgen-Photoelektronenspektroskopie und der Near-Edge-X-ray-Absorption-Fine-Structure (NEXAFS) Spektroskopie an den Cu L2,3 und Cr L2,3 Absorptionskanten bestimmen wir die Ladungszustände der Ionen in der untersuchten Verbindung. Die Analyse der systematischen NEXAFS- und resonanten Photoelektronenspektroskopiedaten an den Cu/Cr L2,3 Absorptionskanten erlaubte es uns, das Material CuCrP2S6 als einen Mott–Hubbard-Typ-Isolator zuzuordnen und verschiedene Auger-Abbaukanäle (Teilnehmer vs. Zuschauer) während der Absorptions- und Autoionisationsprozesse zu identifizieren. Spektroskopische und theoretische Daten für CuCrP2S6 sind sehr wichtig für das detaillierte Verständnis der elektronischen Struktur und der Phänomene elektronischer Korrelationen in verschiedenen geschichteten Materialien, die ihre weiteren Anwendungen in verschiedenen Bereichen wie Elektronik, Spintronik, Sensorik und Katalyse vorantreiben werden.