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Optische Frequenzteilung (OFD) hat die Mikrowellen- und mmWave-Generierung revolutioniert und dank ihrer einzigartigen Fähigkeit, hohe fraktionale Stabilität von optischen zu elektrischen Frequenzen zu übertragen, Rekorde in der spektralen Reinheit aufgestellt. Jüngste schnelle Entwicklungen in integrierten optischen Referenzkavitäten und mikroresonatorbasierten optischen Frequenzkämmen (Mikrokämme) haben einen Weg geschaffen, um die OFD-Technologie auf Chipmaßstab zu transformieren. Hier demonstrieren wir einen ultraniedrigen Phasenrauschen-mmWave-Oszillator, indem wir integrierte photonische Komponenten und Kerr-Optische Frequenzteilung nutzen. Der Oszillator leitet seine Stabilität aus einer integrierten, CMOS-kompatiblen SiN-Spulenkavität ab, und die optische Frequenzteilung wird spontan durch die Kerr-Interaktion zwischen den eingespeisten Referenzlasern und den Soliton-Mikrokämmen im integrierten SiN-Mikroresonator erreicht. Neben dem Erreichen eines rekordniedrigen Phasenrauschens für integrierte mmWave-Oszillatoren vereinfacht unsere Demonstration die Implementierung integrierter OFD-Oszillatoren erheblich und könnte in Anwendungen der Radar-, Spektroskopie- und Astronomie nützlich sein.
Sun et al. (Sun,) haben diese Frage untersucht.