Die Verwendung von Röntgenkristallographie zur Bestimmung der absoluten Konfiguration

Wesentliche Hintergrundinformationen zur Bestimmung der absoluten Konfiguration mittels Einkristall-Röntgenbeugung (XRD) werden präsentiert. Die Verwendung und die Einschränkungen eines internen chiralen Referenzsystems werden beschrieben. Das physikalische Modell, das dem Flack-Parameter zugrunde liegt, wird erklärt. Absolute Struktur und absolute Konfiguration werden definiert, und ihre Ähnlichkeiten und Unterschiede werden hervorgehoben. Die notwendigen Bedingungen für die Ermittlung der absoluten Struktur mit dem Flack-Parameter werden detailliert. Die Symmetrie- und Reinheitsbedingungen für die Bestimmung der absoluten Konfiguration werden diskutiert. Die physikalischen Grundlagen der resonanten Streuung werden kurz dargestellt, und die Erkenntnisse, die aus einer vollständigen Ableitung eines Bijvoet-Intensitätsverhältnisses durch den mittleren quadratischen Friedel-Unterschied gewonnen wurden, werden offengelegt. Die Anforderungen an die kleinste Quadrate-Verfeinerung werden betont. Die Themen der rechtshändigen Achsen, der XRD-Intensitätsmessung, der Software, der Kristallstrukturanalyse, der Fehler in Kristallstrukturen und der Kompatibilität der Daten in Bezug auf die Bestimmung der absoluten Konfiguration werden beschrieben. Die Charakterisierung der Verbindungen und Kristalle durch die physikochemische Messung der optischen Drehung, CD-Spektren und enantioselektive Chromatographie wird präsentiert. Einige einfache und einige komplexe Beispiele zur Bestimmung der absoluten Konfiguration unter Verwendung kombinierter XRD- und CD-Messungen, unter Verwendung von XRD und enantioselektiver Chromatographie sowie in mehrfach zwillingierten Kristallen verdeutlichen die Technik. Der Überblick schließt mit Kommentaren zur Bestimmung der absoluten Konfiguration aus leichten Atomstrukturen.