Charakterisierung von NiO durch XPS

Wir berichten über Röntgenphotoemissionsspektren (XPS) von Nickel(II)-oxid (NiO). Die XPS-Spektren wurden mit dem Röntgen-Photoelektronenspektrometer Physical Electronics Model 5400 unter Verwendung von unmonochromatisierten Mg Kα-Röntgenstrahlen bei zwei Passenergieeinstellungen gemessen, die entsprechenden Analysatorenergieresolutionen von 1,34 und 0,54 eV entsprechen. Wir präsentieren das Übersichtspektrum (Bindungsenergiebereich von 0–1100 eV), das bei einer Analysatorenergieresolution von 1,34 eV gemessen wurde. Multiplexe der C-, O- und Ni-Photoemissionslinien, der Valenzbandregion sowie der Ni LVV Auger-Linie wurden bei einer Analysatorenergieresolution von 0,54 eV gemessen. Die Forschungsgrad-Hochreinheit NiO-Probe wurde kommerziell von der Atomergic Chemetals Corporation bezogen.