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Zusammenfassung Eine Studie zur Signal-Rausch-Verhältnis (S/N) wurde in einem Kratos ES300 XPS-System mit einer Vielzahl von Materialien unter Verwendung sowohl monochromatischer als auch konventioneller Röntgenquellen durchgeführt, die einen breiten Bereich von Zählraten abdeckten. Es wurden Gleichungen abgeleitet und getestet, die S/N mit den Gesamtzählungen (S + B), dem Hintergrund (B) und dem Signal-zu-Hintergrund-Verhältnis (S/B) in Beziehung setzen, basierend auf Daten, die in einem von Zählstatistik begrenzten System erfasst wurden.
Koenig et al. (Di.) haben diese Frage untersucht.