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In 1 C. Daniel schlug eine Statistik vor, die dem maximalen normierten Residuum entspricht, um einen einzelnen schlechten Wert in einem unreplicierten faktoriellen Design zu erkennen. Das folgende Papier gibt ein allgemeines Verfahren zur Berechnung kritischer Werte des maximalen normierten Residuum und enthält überarbeitete Tabellen für ein zweidimensionales Layout mit einer Beobachtung pro Zelle, die als Ersatz für Tabelle 2 in l. verwendet werden können.
Wilhelmine Stefansky (Mon,) untersuchte diese Frage.
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