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Der Testzugang ist ein großes Problem bei System-on-a-Chip (SOC) Designs. Da eingebettete Kerne in einem SOC nicht direkt über die Chip-I/Os zugänglich sind, sind spezielle Zugangsmechanismen erforderlich, um sie nach der Systemintegration zu testen. Eine effiziente Testzugangsarchitektur sollte die Testkosten und die Markteinführungszeit reduzieren, indem die Testanwendungszeit minimiert wird. Wir behandeln mehrere Probleme im Zusammenhang mit dem Design von Testzugangsarchitekturen. Auch wenn diese Designprobleme NP-vollständig sind, können sie genau mittels ganzzahliger linearer Programmierung (ILP) gelöst werden. Als Fallstudie werden die ILP-Modelle für zwei hypothetische, aber repräsentative Systeme mit einem Open-Source-ILP-Softwarepaket gelöst.
Krishnendu Chakrabarty (Do,) hat diese Frage untersucht.