Verbesserung der Empfindlichkeit von Ammoniak-Gassensoren aus Kupfersulfid-Dünnfilmen: Effekt der schnellbeschleunigten schweren Ionenstrahlung

Die Studien befassen sich mit dem Effekt der schnellen schweren Ionen (SHI) Strahlung auf die Oberflächenmorphologie und die elektrischen Eigenschaften von Kupfersulfid (CuxS) Dünnfilmen mit drei verschiedenen chemischen Zusammensetzungen (x-Werte). Die Bestrahlungsexperimente wurden an CuxS-Filmen mit x=1.4, 1.8 und 2 mit 100 MeV Gold-Schwerionen bei Raumtemperatur durchgeführt. Diese als deponierten und bestrahlten Dünnfilme wurden verwendet, um Ammoniakgas bei Raumtemperatur (300 K) zu detektieren. Die Behandlung mit SHI-Strahlung auf Kupfersulfid-Filmen mit x=1.4 und 1.8 verbessert die Empfindlichkeit des Gassensors. Die Ergebnisse werden unter Berücksichtigung der hohen elektronischen Energieabgabe durch 100 MeV Gold-Schwerionen in einer Matrix aus Kupfersulfid diskutiert.