Optimale Konfiguration mehrerer Scan-Ketten

Um die hohe Testzeit für serielle Scan-Designs zu reduzieren, wurde der Einsatz mehrerer Scan-Ketten vorgeschlagen. In diesem Papier betrachten die Autoren das Problem, die mehreren Scan-Ketten optimal zu konstruieren, um die gesamte Testzeit zu minimieren. Anstatt der traditionellen Praxis zu folgen, gleich lange Ketten zu verwenden, lassen die Autoren die Ketten unterschiedlich lang sein und zeigen, dass dies zu kürzeren Testzeiten führen kann. Die Hauptidee dieses Ansatzes besteht darin, jene Scan-Elemente, die häufiger zugegriffen werden, in kürzere Scan-Ketten zu platzieren, da dies tendenziell die gesamte Testzeit reduziert. Gegeben ist ein Design mit N Scan-Elementen und die Notwendigkeit, wenn Scan-Ketten für die Durchführung von Tests verwendet werden müssen, präsentieren die Autoren einen Algorithmus mit einer Komplexität von O(kN/sup 2/), um die angegebene Anzahl von Ketten zu konstruieren, so dass die gesamte Testanwendungszeit minimiert wird. Durch die Analyse einer Reihe unterschiedlicher Schaltungstopologien zeigen die Autoren Reduzierungen der Testzeit von bis zu 40 % im Vergleich zu gleichlangen Ketten.