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Die Scanning-Kelvin-Probenmikroskopie (SKPM) wurde verwendet, um gleichzeitig hochauflösende topographische und Potentialbilder von Pentacen-organischen Dünnfilmtransistoren (OTFTs) während des Betriebes der Geräte zu erhalten. SKPM-Bilder von OTFTs zeigen große Potentialabfälle am Ausgang, deren Größe von der Kontaktmetallurgie abhängt, sowie relativ kleine Potentialabfälle an Korngrenzen in polykristallinen Pentacenschichten.
Nichols et al. (Thu,) untersuchten diese Frage.