Perfilometría facial 3D basada en escáner galvanométrico con proyección de franjas infrarrojas a alta velocidad

La metrología de formas 3D con luz estructurada se ha convertido en una técnica muy importante y uno de los temas de investigación más destacados en el reconocimiento facial 3D. Sin embargo, sigue siendo un gran desafío utilizar el proyector de luz digital (DLP) en un escáner 3D y lograr mediciones a alta velocidad, bajo costo, tamaño pequeño y con iluminación infrarroja. En lugar de usar un DLP, este artículo propone utilizar un escáner galvanométrico para proyectar franjas con desplazamiento de fase a una velocidad de proyección de franjas infrarrojas de hasta 500 fps. Además, se analiza la precisión de medición de los enfoques de desenrollado de fase temporal de múltiples frecuencias (jerárquico) y múltiples longitudes de onda (heterodino) implementados en este sistema. La precisión de medición de ambos métodos es mejor que 0.2 mm. Se realizan comparaciones entre este método y el enfoque clásico de DLP. Este método puede lograr una precisión y repetibilidad similar en comparación con el método clásico de DLP al medir una máscara facial. Los experimentos en rostros humanos reales indican que este método propuesto puede mejorar el campo de las aplicaciones de escaneo 3D a un costo más bajo.