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Une nouvelle approche pour la modélisation des motifs de diffraction sans utiliser de fonctions de profil analytiques est décrite et testée sur des échantillons de poudre de Ni f.c.c. broyés en boule. La procédure de modélisation de motifs de poudre complète (WPPM) proposée permet un affinage en une seule étape des paramètres de microstructure par une modélisation directe du motif expérimental. Les paramètres de maille et le contenu en défauts, exprimé sous forme de densité de dislocation, de rayon de coupure externe, de facteur de contraste, de probabilités de jumeaux et de défauts de déformation, peuvent être affinés conjointement avec les paramètres (moyenne et variance) d'une distribution de taille de grain. Différents modèles de distorsions de maille et de taille et forme de domaine peuvent être testés pour simuler ou modéliser des données de diffraction pour des systèmes aussi différents que des métaux déformés plastiquement ou des poudres cristallines finement dispersées. Des images TEM soutiennent les conclusions obtenues par la WPPM et confirment la validité de la procédure proposée.
Scardi et al. (Jeu,) ont étudié cette question.