Transport de porteurs à l'interface dans des hétérostructures de van der Waals : rôles des bulles, du recuit et du dépistage par champ électrique

Key Points

• Cette recherche vise à examiner l'influence des bulles, du recuit et du dépistage par champ électrique sur le transport des porteurs dans les hétérostructures de van der Waals.
• Analyse des changements dans la qualité de l'interface sous différentes conditions
• Utilisation de différentes intensités de champ électrique
• Examen des effets de la présence de bulles et des techniques de recuit
• Une amélioration de la qualité de l'interface a été observée après le recuit, améliorant le transport des porteurs
• Le dépistage par champ électrique a montré des impacts significatifs sur la mobilité des charges
• Les bulles à l'interface ont affecté négativement les propriétés de transport