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La spectroscopie de photoélectrons X (XPS) est l'une des techniques les plus courantes pour caractériser l'interface solide–électrolyte (SEI) dans la recherche sur les batteries. Cependant, des sels ou des solvants résiduels peuvent produire des artifacts spectroscopiques qui compliquent l'évaluation de la chimie réelle de la SEI. Dans ce contexte, nous présentons une étude XPS systématique de trois sels de Li différents, à savoir le bis(fluorosulfonyl)imide de lithium (LiFSI), le bis(trifluorométhanesulfonyl)imide de lithium (LiTFSI) et l'hexafluorophosphate de lithium (LiPF6). Une comparaison côte à côte révèle que les énergies de liaison des éléments constitutifs varient de manière sensible en réponse à leurs environnements chimiques distincts. Fait frappant, tous les trois sels de Li se sont systématiquement transformés en LiF sous sputtering Ar+, soulignant l'importance d'un retrait complet des sels avant l'analyse XPS. Les résidus de solvant organique ou d'impuretés de la surface de l'échantillon au volume ont été trouvés spécifiques à la combinaison solvant-sel, ce qui doit être distingué de la vraie SEI organique. Dans l'ensemble, cet ensemble d'études de référence n'offre pas seulement une référence précieuse pour l'assignation des pics, mais souligne également l'importance des expériences de contrôle pour éviter d'éventuels pièges lors de l'identification des composants réels de la SEI.
Yu et al. (mar.), ont étudié cette question.