La signification de la loi de Bragg dans la diffraction et la microscopie électronique, et la deuxième loi de Bragg

La deuxième loi de Bragg, qui mérite d'être plus largement connue, est racontée. La signification de la loi de Bragg dans la diffraction et la microscopie électronique est ensuite discutée, avec une attention particulière sur les différences entre la diffraction des rayons X et celle des électrons. Comme exemple de ces différences, l'effet de la tension critique dans la diffraction électronique est décrit. Il est alors montré que l'imagerie des réseaux de cristaux en microscopie électronique à haute résolution révèle directement les plans de Bragg utilisés pour le processus d'imagerie, exactement comme visualisé par Bragg dans sa loi en espace réel. Enfin, il est montré comment, en 2012, pour la première fois, à l'occasion du centenaire de la loi de Bragg, des atomes uniques ont été identifiés dans un microscope électronique en utilisant des rayons X émis par l'échantillon. Ainsi, des cartes de rayons X à résolution atomique d'un cristal en espace réel peuvent être formées, donnant les positions et identités des différents atomes dans le cristal, ou d'un seul atome d'impureté dans le cristal.