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Les propriétés optoélectroniques réglables des monocouches cristallines bidimensionnelles (2D) empilées sont déterminées par leur orientation de superposition, leur ordre et leur enregistrement atomique. La microscopie électronique de transmission par contraste Z à résolution atomique (AR-Z-STEM) et la spectroscopie de perte d'énergie des électrons (EELS) peuvent être utilisées pour déterminer l'enregistrement atomique exact entre différentes couches, dans les empilements 2D à quelques couches ; cependant, des techniques de caractérisation optique rapides sont essentielles pour le développement rapide du domaine. Ici, en utilisant des cristaux de MoSe2 et WSe2 à deux et trois couches synthétisés par dépôt chimique de vapeur, nous montrons que les modes Raman à basse fréquence (LF) généralement inexplorés (<50 cm(-1)) qui proviennent des vibrations inter-couches peuvent servir d'empreintes pour caractériser non seulement le nombre de couches, mais aussi leurs configurations de superposition. Des calculs ab initio et une analyse de théorie des groupes corroborent les affectations expérimentales déterminées par AR-Z-STEM et montrent que les empreintes des modes LF calculées sont liées aux symétries des cristaux 2D.
Puretzky et al. (Mar,) ont étudié cette question.