Diffraction électronique par rétro-diffusion à faible kV et haute résolution de l'aluminium fortement déformé et nanocristallin par indexation basée sur un dictionnaire

Nous démontrons la capacité d'une nouvelle approche d'indexation par dictionnaire (DI) de la diffraction électronique par rétro-diffusion (EBSD) à travers la cartographie des orientations d'une microstructure gradée hautement déformée dans un alliage d'aluminium 7075-T651 traité par impacts. Une faible tension d'accélération du microscope a été utilisée pour extraire, pour la première fois à partir d'un échantillon massif, des informations d'orientation statistiquement significatives d'une région proche d'un cratère d'impact, montrant à la fois des nano-grains recristallisés et des grains fortement déformés. Nous montrons que la nature robuste de la méthode DI permet une acquisition plus rapide de motifs de qualité inférieure, limitée uniquement par le matériel de la caméra, par rapport à la vitesse d'acquisition et à la qualité des motifs requises pour l'approche d'indexation Hough conventionnelle (HI). La méthode proposée ouvre la voie à la caractérisation EBSD quantitative et précise des microstructures fortement déformées à une échelle de longueur sub-micrométrique dans les cas où les techniques d'indexation actuelles échouent largement.