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Des formules approximatives qui donnent l'amplitude de résonance des interféromètres symétriques à deux jonctions ont été dérivées en utilisant des linéarisations par étapes et des approximations basées sur des arguments physiques. L'amplitude de résonance dépend fortement de la qualité du dispositif (Q). Elle augmente avec l'augmentation de Q, atteint un pic, puis diminue à nouveau. Dans la région de faible Q, l'étape de résonance est très large et largement indépendante des changements rapides de courant dans le dispositif. Ce n'est pas le cas dans la région de haute Q où l'amplitude de résonance augmente avec la diminution du temps de montée du courant du dispositif. Dans la plage de validité des approximations, les résultats ont été comparés aux solutions informatiques, et un accord raisonnable a été trouvé pour des cas de test choisis arbitrairement. Bien qu'ils aient été dérivés pour les interféromètres à deux jonctions, les résultats peuvent être étendus directement à certains interféromètres symétriques à trois jonctions.
Zappe et al. (Sun,) ont étudié cette question.
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