Nous concevons et mettons en œuvre un microscope optique et un microscope à force atomique (AFM) intégré modulaire à bas coût basé sur une unité de pickup optique (OPU) capable d'un fonctionnement stable en mode contact. En exploitant les plans conjugués fixes inhérents au sein de l'OPU, nous surmontons les difficultés d'imagerie causées par des plans focaux non fixes. Cela permet une observation optique en temps réel de la position de la sonde AFM et de la position relative pointe-échantillon pendant le fonctionnement avec une résolution optique de 1,5 μm. De plus, en optimisant la conception du circuit et la logique de scan, nous supprimons la dérive de l'objectif OPU et le bruit du système sur l'imagerie, permettant un fonctionnement stable en mode contact avec un bruit de signal inférieur à 2 nm. Fabriqué avec des composants mécaniques et électroniques à bas coût disponibles dans le commerce ainsi que quelques pièces personnalisées imprimées en 3D, ce système présente un coût bas, une assemblage facile et une grande extensibilité.
Wang et al. (Sun,) ont étudié cette question.