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Un nouveau schéma de conversion de tension d'alimentation sur puce à faible consommation est proposé. Ce schéma connecte deux DRAMs ou plus en série pour compenser le grand écart entre les tensions d'alimentation externes et internes. Une réduction de dissipation d'énergie allant jusqu'à 50 % a été vérifiée avec succès à l'aide du système de test. Cet appareil est perçu comme prometteur pour la conversion de tension dans les futurs DRAMs gigabits.
Takashima et al. (Thu,) ont étudié cette question.