Amélioration de la disponibilité des systèmes temps réel multicœurs souffrant de pannes à la fois permanentes et transitoires

La réduction de taille des CMOS a considérablement accru les préoccupations concernant la fiabilité à long terme due aux pannes permanentes et la fiabilité contre les erreurs temporaires dues aux pannes transitoires. La plupart des travaux existants ne se concentrent que sur l'une des deux préoccupations en matière de fiabilité, mais il arrive souvent que les techniques utilisées pour accroître un type de fiabilité puissent avoir un impact négatif sur l'autre type. Quelques efforts considèrent cependant les deux types de fiabilité ensemble et utilisent deux métriques différentes pour quantifier les deux types de fiabilité. Cependant, pour de nombreux systèmes, la préoccupation de l'utilisateur est de maximiser la disponibilité du système en améliorant le temps moyen avant panne (MTTF), indépendamment du fait que la panne soit causée par des pannes permanentes ou transitoires. Répondre à cette préoccupation nécessite une métrique uniforme pour mesurer l'effet dû aux deux types de pannes. Cet article introduit une nouvelle expression analytique pour calculer le MTTF dû aux pannes transitoires. En utilisant cette nouvelle formule et une méthode existante pour évaluer le MTTF du système, nous abordons le problème de maximisation de la disponibilité pour les systèmes temps réel multicœurs en tenant compte des pannes permanentes et transitoires. Un cadre est proposé pour résoudre le problème de maximisation de la disponibilité du système. Les résultats expérimentaux sur une carte matérielle et les résultats de simulation de tâches synthétiques montrent que notre schéma améliore considérablement le MTTF du système (et donc la disponibilité) par rapport aux techniques existantes.