Détermination Précise des Constantes de Réseau

Dans la Partie I, les conditions théoriques et expérimentales qui doivent être satisfaites pour déterminer les constantes de réseau avec une précision de quelques parties par cent mille sont discutées, avec une application particulière au type de caméra à mise au point symétrique. La méthode de calcul de Cohen pour les constantes de réseau afin d'éliminer le ``dérive'' et les erreurs expérimentales est appliquée. Des méthodes sont développées pour l'évaluation des erreurs standards et des limites fiduciaires des résultats d'un seul film et d'un ensemble de films. L'utilité des cibles aux rayons X fabriquées à partir d'alliages plutôt que d'éléments purs pour obtenir un plus grand nombre et une meilleure distribution des lignes est indiquée. L'influence du nombre et des indices de Miller des lignes de diffraction sur les valeurs des constantes de réseau dans des systèmes non cubiques est montrée. L'importance des méthodes de préparation des échantillons pour un travail de précision est soulignée. Dans la Partie II, des mesures de précision sur Al, Ni, Ag, Au, Si, Fe, Mo, W, Mg, Zn, Cd, Sb, Bi et Sn sont rapportées pour des matériaux d'un haut degré de pureté. Les limites fiduciaires de ces constantes de réseau varient entre 2 et 7 parties par cent mille et sont choisies de sorte que la probabilité que la valeur correcte se situe entre les limites énoncées est de 19 sur 20.