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Un modèle de faute qui considère les fautes dans les mémoires à accès aléatoire en semiconducteurs à un niveau fonctionnel plutôt qu'à un niveau de porte de base est présenté. Un algorithme efficace 0(n) pour détecter toutes les fautes dans le modèle de faute est décrit. Le modèle de faute est ensuite étendu pour intégrer des fautes plus complexes. Un algorithme 0(n · log2 n) est présenté pour un tel modèle de faute étendu.
Nair et al. (Jeu,) ont étudié cette question.
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