超伝導キュービットキャリブレーションデータにおける時間整列したコヒーレンス崩壊と読み出しエラーのバースト.

超伝導キュービットのパフォーマンスは、コヒーレンスタイム（T2）や読み出しエラー確率などのスナップショットキャリブレーションメトリックを使用して一般的に評価されます。短期的な特性評価には便利ですが、そのような静的表現は長期的なデバイス運用に存在する時間構造を隠してしまいます。この技術ノートは、IBM Quantum Athens 超伝導量子プロセッサから入手可能なキャリブレーションデータの時間分解された実証分析を提示します。キャリブレーション記録を時系列順に処理することで、分析は急激なコヒーレンス崩壊と短命の高読み出しエラーの間の繰り返し出現する時間整列を明らかにします。この分析は記述的であり、モデル非依存です。微視的なノイズ源、制御メカニズム、または因果関係は推測しません。観察は事前のエラー訂正の挙動に制限されており、キャリブレーションデータが静的なスナップショットとしてのみ解釈されるときに隠される非定常で構造化された挙動を文書化することを目的としています。これらの観察は、スケジューリング、ベンチマーク、およびステーショナリーなキャリブレーションパラメータを仮定するあらゆる方法論に関連しています。