遷移光電圧測定による拡散電子の空間的電荷分離の決定

フォトインジェクションされたキャリアによって層内で生成された表面光電圧は、電荷の総量と正および負のキャリアの電荷中心間の距離という2つの寄与に分けることができることが示されています。この事実により、表面光電圧の過渡変化から光誘起電荷の空間的電荷分離およびその時間的変化に関する情報を直接抽出することが可能になります。実験的に特に重要な2つのケースについて詳細に分析し、この方法の一般性を示します：拡散光電圧およびスクリーニング長よりも厚い層におけるトンネル再結合、また、半無限空間における拡散の極限ケースも考慮します。