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Es wird gezeigt, dass die Oberflächenphotospannung, die durch die photoinjizierten Träger in einer Schicht erzeugt wird, in zwei Beiträge zerlegt werden kann: die Gesamtmenge der Ladung und den Abstand zwischen den Ladungszentren der positiven und negativen Träger. Diese Tatsache ermöglicht es uns, Informationen direkt über die räumliche Ladungstrennung der photoinduzierten Ladung und deren zeitliche Entwicklung aus transienten Oberflächenphotospannungen zu extrahieren. Zwei Fälle von besonderer experimenteller Relevanz werden detailliert analysiert, um die Allgemeingültigkeit der Methode zu zeigen: Diffusionsphotospannung und Tunnelrekombination in Schichten mit einer Dicke von weniger als der Abschirmlänge und in Schichten, die dicker sind als die Abschirmlänge, wobei auch der Grenzfall der Diffusion in einem semi-unendlichen Raum berücksichtigt wird.
Mora‐Seró et al. (Mittwoch) haben diese Frage untersucht.
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