SU(2) 대칭 모니터링 양자 회로에서의 중대한 단계와 스핀 정교화

모니터링된 양자 회로는 특정 측정 속도에서 얽힘 전이를 나타냅니다. 이러한 전이는 관측자가 측정 결과로부터 얼마나 많은 정보를 얻을 수 있는지를 기준으로 단계들을 구분합니다. 우리는 정확한 수치 해석과 효과적인 통계역학 모델에의 매핑을 사용하여 SU(2) 대칭 모니터링 양자 회로를 연구합니다. 대칭의 비아벨 성질로 인해, 큐비트 쌍을 측정함으로써 측정 전용 한계에서도 비트리비얼한 얽힘 스케일링이 가능합니다. 우리는 부피 법칙으로 얽힌 단계와 비아벨 대칭에서 발생하는 확산적 정화 동역학을 가진 중대한 단계 사이의 전이를 발견합니다. 또한 우리는 "스핀 정교화 전이"를 확인합니다. 전이를 가로질러, 측정이 전체 스핀 양자 수에 대한 정보를 드러내는 속도가 시스템 크기에 따라 매개변수적으로 변화합니다.