ν = 3에서의 필링 팩터 근처의 위상 전이

2차원 전자 시스템의 세로 저항에서 스파이크가 나타나는 것과 동반된 위상 전이는 ZnO/MgZnO 이종접합에서 필링 팩터 ν = 3 근처의 전자 스핀 공명을 활용하여 연구되었다. 이 전이는 자기장 기울기 각 θ가 일부 임계 값 θ c로 증가할 때 발생한다. 스핀 공명 진폭 분석을 통해 이 현상의 스핀 본성을 입증할 수 있었다. 예를 들어, 전이의 양쪽에서 시스템의 바닥 상태는 비영점 스핀 편극을 가지며, 시스템의 위상이 변경될 때 몇 배로 변화한다. 강한 스핀 공명이 θ가 θ c일 때 관찰된다. 놀랍게도, 임계 각 θ c에서의 스핀 공명은 오직 하나의 위상에서만 감지되며, 이는 세로 저항에서 스파이크 위치에 해당하는 임계 자기장 B c 이하의 영역에 위치한다. 이 값으로 자기장을 증가시키면 공명 진폭이 감소하고 공명 폭이 증가한다. B c 이상의 자기장 영역에서는 스핀 공명이 완전히 사라진다. 스핀 공명의 이러한 행동은 전자 시스템에서 서로 다른 스핀 편극을 가진 도메인이 형성된 것 때문일 가능성이 높다.