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本論文では、電力電子アプリケーション向けの高周波磁気特性を評価するための新しいマルチレベル磁気コンポーネントテスタ回路および試験ベンチを提案します。提案された回路トポロジーは再構成可能であり、三角フラックス、台形フラックス、DCバイアスの存在、低周波および高周波励起の組み合わせなど、さまざまな励起条件下での磁気試験を可能にします。さらに、提案されたトポロジーは、コア損失を定量化するための一般的な二重巻線ベースの測定アプローチを実現します。マルチレベルコンバータのSiCMOSFETベースのハードウェアプロトタイプが実験室で開発され、高い動作周波数を実現します。ハードウェア試験ベンチからの実験結果が提供され、磁気テスタ回路のマルチレベルおよび多周波数動作能力が検証されます。
Rajput et al. (Sun,) はこの問題を研究しました。
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