Constructing Instruments for Regressions With Measurement Error When no Additional Data are Available, with An Application to Patents and R&D | Synapse
September 1, 1997
追加データが利用できない場合の測定誤差を伴う回帰のための計装の構築：特許とR&Dへの応用
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Abstract
アーサー・ルエベル, 追加データが利用できない場合の測定誤差を伴う回帰のための計装の構築：特許とR&Dへの応用, エコノメトリカ, 第65巻, 第5号 (1997年9月), pp. 1201-1213