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एल्युमीनियम की सतह पर ऑक्सीकरण अभी भी ठीक से समझा नहीं गया है, इसके इलेक्ट्रॉनिक्स में इंसुलेटर के रूप में, एल्युमीनियम-एयर बैटरियों में, और धातु को जंग से बचाने में इसके महत्वपूर्ण भूमिका के बावजूद। यहां हम पर्यावरणीय ट्रांसमिशन इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप (TEM) में एटॉमिक रिज़ॉल्यूशन इमेजिंग का उपयोग करते हैं ताकि एल्युमीनियम ऑक्साइड बनने के तंत्र की जांच की जा सके। इलेक्ट्रॉन बीम स्पटरिंग का उपयोग करके, हम TEM में एक शुद्ध, ऑक्साइड-मुक्त धातु की सतह तैयार करते हैं। यह हमें क्रिस्टलोग्राफ़िक उन्मुखता और ऑक्सीजन गैस के दबाव के कार्य के रूप में, पहले ऑक्साइड नाभिकण से लेकर पूरी तरह संतृप्त, कुछ-नैनोमीटर मोटी सतह फिल्म तक की पूरी ऑक्साइड वृद्धि क्षेत्र का अध्ययन करने की अनुमति देता है।
Nguyen et al. (बुध,) ने इस प्रश्न का अध्ययन किया।
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