DIII-DにおけるHモードレジームのエッジ物理の定量化の進展

DIII-Dにおけるエッジ条件は、Hモードレジームの物理を理解するために定量化されています。電子温度はL-H遷移を制御する重要なパラメータではありません。エッジ温度と圧力の勾配は、そのようなパラメータの有望な候補です。Hモードの閉じ込めの質は、圧力のHモードペデスタルの高さと強く相関しています。圧力の勾配はMHDモード、特に有限モード数nを持つキンク-バルーニングモードによって制御されているようです。さまざまな放電において、バリアの幅は(β_ ext{ped})^{1/2}に比例する関係でよく説明されます。ELMなしで安定した運転、低不純物含量、通常のHモード閉じ込めを提供する魅力的な閉じ込めレジームが発見されました。コヒーレントなエッジMHDモードは、プラズマ密度と不純物含量を制御するために十分な粒子輸送を提供し、圧力ペデスタルをELM放電で観察されるものとほぼ同一の状態に保つことを許可しています。