환경에서 미세플라스틱의 체계적 식별을 향하여: 분광 분석을 위한 새로운 독립 소프트웨어 도구(siMPle)의 평가

미세플라스틱(MP)은 환경 내에 널리 퍼져 있지만, 이 오염물 분석 접근법은 현재 꽤 다양하고, 여러 가지 분석 방법이 사용 가능합니다. 심지어 푸리에 변환 적외선 분광법(FT-IR)과 같은 단일 분석 방법의 결과 비교 가능성은 현재 사용 가능한 다양한 기기들 때문에 제한됩니다. 이러한 한계를 극복하기 위해, 환경에서 MP를 체계적으로 식별할 수 있는 새로운 무료 소프트웨어 도구(siMPle)가 개발되었습니다. 이 소프트웨어 도구는 서로 다른 제조업체의 FT-IR 시스템을 통해 MP를 신속하게 조화롭게 분석할 수 있게 해줍니다(Bruker Hyperion 3000, Agilent Cary 620/670, PerkinElmer Spotlight 400, Thermo Fischer Scientific Nicolet iN10). 동일한 데이터베이스와 siMPle의 자동화된 분석 파이프라인을 사용하여, 서로 다른 탐지기 시스템 및 광학 해상도로 분석된 샘플에서 MP가 식별되었고, 그 결과가 논의되었습니다.